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数码LCD金相显微镜
产品参数
  • 发源地:
  • 中国山东(大陆)
  • 品牌:
  • HIPROVE
  • 型号:
  • HIP-XJP-607
  • 理论:
  • 冶金显微镜
  • 镜筒:
  • 双目
  • 证书:
  • CE ISO
  • 显微镜类型:
  • 工业显微镜
  •  
包装和交付
  • 包装细节:
  • 木箱
  • 交货时间:
  • 付款后7天
详情介绍
HIP-XJP-607工业冶金显微镜的开发和目标是半导体工业,晶圆制造,电子信息产业,冶金工业。 作为一种先进的冶金显微镜,用户在使用时可以体验到它的超强性能。它可以广泛用于识别和分析半导体,FPD,电路封装,电路基板,材料,铸造/金属/陶瓷零件,精密模具和观察 较厚的标本。 高质量和可靠的光学系统带来更清晰和对比度的图像。 该设计符合人体工程学的需求,让您在工作中感到舒适和放松。
Specification               
Viewing Head   Compensation Free Trinocular Head, Inclined 30°(50mm-75mm)
Eyepiece   WF10×/25mm
  WF10×/20mm,crosshair with reticule 0.1mm
Objective Long working distance bright and dark field Infinite Plan objectives: 5 ×/0.1B.D/W.D.29.4mm 10×/0.25B.D/W.D.16mm  20×/0.40B.D/W.D.10.6mm 40 ×/0.60B.D/W.D.5.4mm
Nosepiece   Quintuple Nosepiece with DIC Jack
Stage   Double layer mechanical stage
  Stage Size: 190mm×140mm
  Moving Range:50mm×40mm
Filter   Flashboard type filters(green,blue,neutral)
Focusing Coaxial coarse &fine focusing adjustment With rack and pinion mechanism Fine focusing scale value 0.002mm
Light Source With aperture iris diaphragm and field iris diaphragm, halogen Bulb 12V/50W,  AC85V-230 Brightness Adjustable
Polarizing Device Analyzer rotatable 360,°Polarizer&Analyzer can be moved in/out of the optical path
Checking Tool   0.01mm Micrometer
Optional Accessory   Two-dimensional measurement software
  Professional metallurgical image analysis software
  Halogen Bulb 12V/100W
  Micrometer eyepiece
  1.3Mega,2.0 Mega,3.0 Mega,5.0 Mega pixels CMOS Digital camera eyepieces
Long working distance bright & dark field Infinite Plan objectives: 50 ×/0.55B.D/W.D.5.1mm, 80×/0.75B.D/W.D.4mm,100×/0.80B.D/W.D.3mm
Precision Stage:X-Y moving range 25mm×25mm,Moving Precision<5um,Digital hand wheel Min.Value:0.1um,360°Rotatable disc
  Photography attachment and CCD Adapter 0.5×,0.57×,0.75×
  DIC(10×,20×,40×,100×)
  Planishing tool
  CCD Camera,colour 1/3″High resolution 520 TV lines
特征和描述
 
1. UIS无限光学系统。

2.采用长寿命卤素光源,光效更高。

3.明场和暗场,偏振和差分干涉功能。

4.非球面科勒照明,增加观察亮度。

5. WF10×(Φ25)超宽视场目镜,工作距离长

           冶金目标与明亮和黑暗的领域

6.五元件Nosepiece可配备可拆卸的DIC差速器
           干扰装置。
 
DIC:Nomarski差分干涉对比度观察被认为是检查材料,半导体和金属结构的必要手段。
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